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FISCHER
  • 涂鍍層厚度測量

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  • X-Ray and Neutron Optics


來自Helmut Fischer的測量及分析儀器

菲希爾能提供多樣的產品種類,包括大量創新性的測試儀器,應用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領域。您行業中各種應用都可以在這里一站式地得到完美解決,從而讓您能以最高的精確度獲得可靠的測試結果。

涂鍍層厚度測量

用于快速、準確測定涂鍍層厚度的便攜式、桌面以及自動化測量儀器。

涂層厚度測量

材料測試

能夠準確測定材料參數(如元素成分、鐵素體含量、電導率以及其他特性)的先進測量技術。SMP350

材料測試

表面檢查

無論您在研究輪廓、硬度還是孔隙率,您都能找到用于測定表面特性的適當的測試解決方案。

表面檢查

來自FISCHER的新產品

在這里您能找到為專業測量而設計的新產品概覽

來自FISCHER的新產品

X-Ray and Neutron Optics

The development and manufacture of high precision capillary optics for beam shaping of X-rays is a technological core competence of the Helmut Fischer GmbH.

High precision capillary X-Ray and Neutron Optics









































































涂鍍層厚度測量


便攜式測量儀器

FISCHER提供便攜式測量儀器以滿足直接在工件上測量涂層厚度的幾乎所有需求,無論是簡單的、重復性的日常測量任務還是不規則幾何形狀上的復雜、多層應用。

MMS INSPECTION – 專為防腐設計

MMS? INSPECTION

為重防腐設計的測試儀器:操作簡單、測量快捷,可用于測量在鋼鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層厚度(DFT),露點測試(DPM)和表面粗糙度的測試(SPG)。

XAN500

XAN500

一臺儀器,三種作業模式:XAN?500不只是一臺手持便攜式XRF設備,它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

MP0/MP0R 系列

MP0/MP0R 系列

內置探頭或集成有線探頭的小巧且穩固的測量儀器,專為簡單、重復性的測量任務而設計,即使在簡陋的環境條件下也能準確測量。

FMP10/40

FMP10/40

入門級手持式設備,配有圖形顯示和 USB 接口,用于專業的涂鍍層厚度測量。

FMP100/150

FMP100/150

具有更多內存、藍牙連接以及圖形與統計分析功能的手持式測量儀器,適用于客戶特定的測量任務。

PMP10/PMP10 Duplex

PMP10/PMP10 Duplex

手持式設備,用于特別粗糙底材上的涂鍍層及多層涂鍍層的厚度測量,如油漆層/鋅層/鐵底材。

SR-SCOPE<sup>?</sup> RMP30-S

SR-SCOPE? RMP30-S

可用于快速測定電路板(包括多層電路板)上銅鍍層厚度的手持式設備。




臺式測量儀器

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術,能提供無與倫比的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術,因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

XAN500

XAN500

一臺儀器,三種作業模式:XAN?500不只是一臺手持便攜式XRF設備,它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

MMS PC2

MMS PC2

采用不同測量技術的模塊化系統:非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

CMS2

CMS2

臺式測厚儀,幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層(包括多鍍層)的厚度。

GOLDSCOPE 系列

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的

XAN 系列

XAN

用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

XUL 系列

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測試儀器,堅固耐用,快速、高效地測量鍍層厚度,特別適合電鍍行業。

XDL 系列

XDL / XDLM / XDAL

功能強大:XDL 系列儀器具有全面的配置方案,可手動或自動測試,是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

用于鍍層厚度測量和材料分析的XDV-SDD型儀器

XDV-SDD

FISCHERSCOPE? XDV-SDD專為滿足最高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

用于測量最微小結構的XDV-μ型儀器

XDV-μ

FISCHER的XDV-μ型系列儀器,可用于測量電子或珠寶等行業中最微小結構的產品

XUV

XUV

X 射線熒光儀器,配有用于分析輕元素的真空測量室。

自動化測量系統

在運行的生產線中,無論您是需要進行 100%全檢還是隨機抽樣檢測涂鍍層厚度:FISCHER 均可提供滿足您需求的測量儀器。我們的所有儀器專為在生產過程中進行快速、準確的測量而設計。FISCHER 的 X 射線熒光儀器與接觸式測量儀器均能通過不同的接口直接集成于各種生產環境中。

MMS AUTOMATION:這種模塊化的測量系統是為自動化涂層厚度和電導率測量而設計的。

MMS? AUTOMATION

該模塊化測量系統是為自動測量涂層厚度和電導率而設計的。

XAN500

XAN500

一臺儀器,三種作業模式:XAN?500不只是一臺手持便攜式XRF設備,它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

[Translate to Chinese (CN):] X-RAY 4000

X-RAY 4000

用于帶狀材料或卷材上鍍層測試的在線測量系統。在生產過程和質量管理系統中實現無縫集成。

X-RAY 5000

X-RAY 5000

X 射線熒光儀器采用模塊化設計,可集成至生產線中(如:龍門架上)。非常適合測量大型表面上較薄的鍍層。

[Translate to Chinese (CN):] FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI

X-RAY XDV-μ SEMI

精確的全自動測量工作站,適用于 2.5/3D 封裝應用。

校準與附件

為了能得到準確的測量結果,所有FISCHER儀器都隨機配備有操作直觀、功能強大的軟件,用于涂鍍層厚度測量、材料分析、材料測試以及納米壓痕測試。借助測量臺、軟件功能擴展等方式,您可以根據自己的需求對儀器進行更具針對性的調整,同時也可提高操作便利性以及測量結果的精度。

儀表支架與樣品架

測量臺與樣品支架

提高測量效率和可靠性:即使是復雜幾何形狀的樣品,測量臺與樣品支架都能夠簡化測量。

DataCenter,DataCenter IP

DataCenter,DataCenter IP

憑借DataCenter 軟件以及 DataCenter IP、Inspection Plan 軟件,可自動分析測量值,從而節省時間并消除錯誤根源。

WinFTM

WinFTM

所有FISCHER X射線儀器的核心:WinFTM 結合了適用于專業涂鍍層厚度測量與材料分析的所有功能。

校準

校準

當精度非常重要時:需要各種校準附件,用于材料分析測試、涂鍍層厚度測量以及納米壓痕測試。

電導率測量

作為電阻的倒數值,電導率不僅能夠反映金屬傳導電流的性能,還能夠間接允許您得出與金屬成分、微結構以及機械性能的變化相關的結論。使用FISCHER的測量儀器,您可以快速、準確地測定這些重要參數。特殊的渦流法可支持非接觸測量,甚至在厚達 500 μm 的油漆或塑料涂層下也同樣如此。該方法同時還可最大限度地降低表面粗糙度的影響。

SIGMASCOPE SMP350

SIGMASCOPE SMP350

結構緊湊的手持式設備,用于測定各種金屬表面與固體物質的電導率。

SIGMASCOPE GOLD

SIGMASCOPE GOLD

可通過導電性對黃金真偽性進行無損檢驗的移動設備。

MMS PC2

MMS PC2

采用不同測量技術的模塊化系統:非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

鐵素體含量測量

例如,焊縫周圍的鐵素體含量低將導致奧氏體和雙相鋼中的重大結構缺陷。另一方面,鐵素體含量過高又會降低耐腐蝕性、韌性以及延展性。因此,根據應用情況,了解確切的鐵氧體含量至關重要。借助 FISCHER 提供的精確測量儀器,您可以快速、無損地確定鐵素體的含量。

FERITSCOPE FMP30

FERITSCOPE FMP30

基于磁感應法,用于快速、無損地測量鋼材中鐵素體含量的便攜式設備,常見被測樣品有壓力容器和管道等。

MMS PC2

MMS PC2

采用不同測量技術的模塊化系統:非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

孔隙率測試

POROSCOPE 系列是一款堅固耐用的便攜式測量設備,非常適合快速、簡便地測試非導電保護涂層,甚至可發現極其細微的小孔和裂痕。

孔隙率測試

POROSCOPE

可精確檢測非導電薄膜上的孔洞及裂痕,用于檢測包裝的密封性和絕對耐腐蝕性。德國Fischer菲希爾

  • 校準片標準片

  • 超聲波測厚儀

  • 致密性測試儀

  • 菲希爾代理

  • X-RAY測厚儀

  • 探頭

  • Fischer測厚儀

  • FischerMP0系列測厚儀

  • Fischer鐵素體含量測試儀

  • Fischer電導率測試儀

  • 菲希爾多功用測厚儀

  • 菲希爾臺式測厚儀

  • 菲希爾測厚儀

  • POROSCOPE? HV40孔隙率測試儀

  • FERITSCOPE鐵素體含量測試儀

  • DeltaScope FMP10測厚儀

  • ISOSCOPE FMP30測厚儀

  • SR-SCOPE RMP30測厚儀

  • PhaScope PMP10測厚儀

  • SigmaScope SMP30測厚儀

  • Couloscope CMS2測厚儀

  • FischerScope MMS測厚儀

  • DualScope MPOR測厚儀

  • DualScope FMP測厚儀

  • Fischer孔隙率測試儀

  • 菲希爾鐵素體含量測試儀

  • Fischer膜厚儀